DUT (device under test)

Eine Device Under Test (DUT) oder Unit Under Test (UUT) ist ein elektronisches Messobjekt, dessen charakteristische Kennwerte ermittelt werden. Das kann ein Zwei- oder Vierpol sein, ein passives oder aktives Bauteil, ein Kabel oder ein Lichtwellenleiter, eine analoge oder digitale Schaltung, ein Wafer, ein Modul, eine Leiterplatte oder ein Gerät.


Bei größeren Einheiten wird anstelle der Bezeichnung Device Under Test (DUT) die Bezeichnung Unit Under Test (UUT) benutzt. Zur Messung wird das Messobjekt mit den relevanten Parametern belegt und sein Verhalten in Bezug auf die Parameter ermittelt und dokumentiert. Um welche Parameter und Kennwerte es sich handelt ist durch das Messobjekt in gewisser Weise vorgegeben. So wird man beispielsweise die Kennwerte eines Kondensators frequenzabhängig messen, die eines Speicherbausteins in Abhängigkeit von der Taktrate.

Die Bezeichnung Device Under Test wird häufig für den Prüfling bei Testsystemen und bei der Testung von Halbleitern und Halbleierschaltungen benutzt.

Informationen zum Artikel
Deutsch: Messobjekt - MO
Englisch: device under test - DUT
Veröffentlicht: 12.04.2018
Wörter: 151
Tags: #Messen und Testen
Links: Analog, Digital, Halbleiter, HE (Höheneinheit), Kabel