Der Surface Insulation Resistance (SIR) ist der elektrische Oberflächenwiderstand einer isolierenden Oberfläche. Der SIR-Kennwert, auch als Isolationswiderstand ( IR) bezeichnet, wird in der Leiterplattenherstellung benutzt und ist ein Maß für die Sauberkeit der Oberfläche der Leiterplatte.
Gemessen wird er zwischen zwei oder mehreren benachbarten Leiterbahnen oder Anschluss-Pads, angegeben wird er in Ohm resp. in Mega-Ohm und Giga-Ohm. Der SIR-Wert kann sich durch Verschmutzung, Materialveränderung, Korrosion und Ionisierung verändern.
Getestet wird der Surface Insulation Resistance mit einem standardisierten Verfahren bei dem Leckströme zwischen mehreren parallelen Leiterbahnen gemessen werden. Dazu werden unterschiedlich hohe Spannungen an die Leiterbahnen angelegt.