MOI (manual optical inspection)

Die Sichtprüfung, Manual Optical Inspection (MOI), dient der einfachen optischen Prüfung von Leiterbahnen, Lötstellen, Bauteilen und Baugruppen auf einer Leiterplatten. Mit diesem Testverfahren können sichtbare Fehler direkt oder durch eine Lupe oder ein Mikroskop erkannt werden.


Mit der MOI-Prüfung lassen sich Bestückungsfehler erkennen, so u.a. fehlende oder falsche Bauteile, verkehrt oder verdreht eingebaute Bauteile. Darüber hinaus kann die Qualität der Lötverbindungen überprüft und es können eventuelle Kurzschlüsse oder Unterbrechnungen erkannt werden. Die manuelle Sichtprüfung gehört zu den einfachsten Prüfungen, die nach der Produktion eingesetzt werden, und die nur einen geringen Aufwand erfordert. Eine Weiterentwicklung der Sichtprüfung ist der automatische optische Sichtprüfung, die Automatic Optical Inspection (AOI).

Mit der Sichtrüfung können diverse Fehler nicht erkannt werden: So der richtige Bauteilewert von unbeschrifteten wie beispielsweise von SMD-Widerständen, defekte Bauteile, schlechte Lötstellen von Chips, deren Anschlüsse sich unterhalb des Bauteils befinden, kalte Lötstellen und Unterbrechnungen in Leiterbahnen.

Informationen zum Artikel
Deutsch: Sichtprüfung
Englisch: manual optical inspection - MOI
Veröffentlicht: 13.03.2014
Wörter: 169
Tags: #Testverfahren
Links: Anschluss, AOI (automatic optical inspection), Aufwand, Chip, Fehler