Hardware-in-the-Loop

Hardware-in-the-Loop (HiL) ist ein Testszenarium, das u.a. in der Automotive-Technik eingesetzt wird und bei dem die zu testenden Komponenten in eine simulierte Anwendungsumgebung integriert werden.

Bei den Test-Komponenten kann es sich um Electronic Control Units (ECU) handeln, die über eine elektronische Schnittstelle in die HiL-Testumgebung eingebunden, mit Testsoftware gesteuert und der späteren Anwendung entsprechend belastet werden. Die Testbedingungen verlaufen dynamisch und sollen die späteren realen Umgebungsbedingungen optimal nachgebilden. Die beim HiL-Test ermittelten Daten werden erfasst, protokolliert und ausgewertet und zeigen das Verhalten der Test-Komponenten in der simulierten Umgebung.

Das HiL-Testverfahren bietet Vorteile bei Regressionstests von allen Funktionen der elektronischen Steuergeräte, er eignet sich für komplexe Software-Tests mit vielen Bedienungsmöglichkeiten, ebenso wie für den Test der Elektronikfunktionen und der für die Reproduktion von Funktionen bei der Fehlersuche. Mit HiL-Tests können die Zuverlässigkeit der Fahrerassistenzsysteme und Sicherheitssysteme von Elektrofahrzeugen geprüft werden. Außerdem sollen mit den HiL-Tests funktionale Fehler der Steuersoftware erkannt werden.

Als weitere in-the-Loop-Modelle gibt es Processor-in-the-Loop (PiL), Software-in-the-Loop (SiL) und Model-in-the-Loop (MiL). Bei allen genannten in-the-Loop-Modellen geht es darum, das ein Embedded System mit einem Modell, das die Systemumgebung nachbildet, simuliert wird.

Informationen zum Artikel
Deutsch: Hardware-in-the-Loop
Englisch: hardware-in-the-loop - HiL
Veröffentlicht: 25.01.2021
Wörter: 194
Tags: Automotive
Links: Automotive-Technik, Daten, Elektronisches Steuergerät, Elektrofahrzeug, Embedded System