Die EMV- Prüfung von elektronischen Bauteilen und integrierten Schaltungen ( IC) gestaltet sich wegen der kleinen Abmessungen als äußerst schwierig zumal die Anschlüsse keine effizienten Antennen für Hochfrequenzen unter 1 GHz darstellen. In der Praxis werden die HF-Störungen von Kabelbäumen und Leiterplatten aufgenommen und gelangen so an die Pins der integrierten Schaltungen. Um dies im Labor nachbilden zu können, wurde das DPI-Verfahren (Direct Power Injection) entwickelt. Mit diesem Verfahren lässt sich jeder einzelne Pin eines ICs auf seine Störanfälligkeit überprüfen.
Das DPI-Verfahren reproduziert eine HF-Störung wie sie durch HF- Kopplung von Kabeln oder Antennen-ähnlichen Strukturen der Schaltkreise erzeugt werden. Zu diesem Zweck wird eine verstärkte HF-Störung direkt in einzelne oder mehrere Pins der zu testenden integrierten Schaltung eingespeist. Über die Art der Auskopplung der HF-Störung, die auf der Spannungsversorgungsleitung erfolgt, können bestimmte Arbeitsbedingungen der integrierten Schaltung wie die der Impedanz oder des Frequenzbereichs nachgebildet werden. Die Fehlerbewertung ist anwendungsspezifisch. Bei den verursachten Fehlern kann es sich Phasenfehler oder Timingfehler handeln, aber ebenso um Funktionsstörungen oder Frequenzabhängigkeiten.