BIST (built-in self-test)

Ein eingebauter Selbsttest, Built-In Self Test (BIST), ist dadurch gekennzeichnet, dass sich ein Schaltkreis, ein Gerät oder System selbst kann. Dies kann Online oder Offline erfolgen: Online gleichzeitig mit dem normalen Betrieb, während der Initialisierungsphase oder innerhalb von Ruhezeiten, Offline als funktionaler diagnostischer Test der Soft- und Hardware oder mittels rückgekoppelter Signalführung mittels Linear Feedback Shift Register (LFSR).


Von der Funktionalität her wird beim Built-In Self Test mit einem Testmustergenerator (TPG) ein Testmuster generiert und dem Messobjekt, Device Under Test (DUT), zugeführt. Das Ergebnis wird von dem Output Response Analyzer (ORA) analysiert. Die Testtiefe wird vom Testmustergenerator bestimmt und kann vollständig, pseudo-vollständig oder pseudo-zufällig sein.

Testverfahren und ihre Einsatzmöglichkeiten

Testverfahren und ihre Einsatzmöglichkeiten

Bei den BIST-Tests unterscheidet man zwischen Logic BIST (LBIST) und Memory BIST (MBIST). LBIST wurde speziell für Zufallslogiken entwickelt und arbeitet typischerweise mit einem Pseudomuster- oder Pseudozufallsgenerator (PRNG), der ein Zufallsmuster erzeugt mit der die logischen Zustände überprüft werden. Entsprechen die Ausgangszustände nicht der Wahrheitstabelle, dann arbeitet die Logik fehlerhaft. MBIST ist ein Testmuster für Speicher. Es besteht aus einem Testkreis, mit dem Speicherbausteine ausgelesen und deren Ausgangszustände mit einem vorgegebenen Muster verglichen werden. Neben den beiden genannten Verfahren gibt es noch ABIST, was für Array BIST und Analog BIST steht. Also für den Selbsttest von Arrays und von Analog-ICs.

BIST-Tests werden in vielen elektronischen Geräten eingesetzt. So in Geräten der Unterhaltungstechnik, der Hauselektronik, in Alarmanalgen, in Geräten der Medizinelektronik, in Haushalts- und Messgeräten und in Kraftfahrzeugen.

Informationen zum Artikel
Deutsch: Eingebauter Selbsttest
Englisch: built-in self-test - BIST
Veröffentlicht: 08.09.2013
Wörter: 258
Tags: #Testverfahren
Links: Analog, Analog-IC, Analysator, Array, DUT (device under test)