ATPG (automated test pattern generation)

Mit der automatischen Testmustergenerierung (ATPG) werden Bitmuster erzeugt mit denen Chips, Logiken und Funktionseinheiten bei der Produktion einem Funktionstest unterzogen werden. Je nach Schaltungstechnik müssen die Testmuster für digitale Logiken oder analoge Schaltkreise ausgelegt sein.


Bei Digitalschaltungen zielt die Bitmustergenerierung darauf ab möglichst viele Bitmuster zu erzeugen um Fehler in den Schaltungen oder in den Komponenten zu simulieren. Da die Komplexität von Speicher- und Zentraleinheiten extrem hoch ist, ist es von der Testzeit und der Testprogrammerstellung her völlig ausgeschlossen jede Funktion einzeln zu testen und damit jeden mögliche Fehler zu ermitteln. Die Testmuster werden daher so entwickelt, dass Testzeit einen minimalen Zeitaufwand erfordert und gleichzeitig möglichst viele Funktionen ausgetestet werden. Da bei digitalen Schaltungen viele Funktionen über mehrere Taktzyklen ausgeführt werden, können solche Fehler nicht in einem Taktzyklus erkannt werden. Der dafür erforderliche Testaufwand ist nicht realisierbar.

Für die Testmustergenerierung gibt es entsprechende Programmwerkzeuge, die kontinuierlich verbessert werden und die die Testmustererzeugung vereinfachen. Bitmuster werden u.a. in Funktionstests eingesetzt und bilden einen großen Teil der logischen Funktionen nach.

Informationen zum Artikel
Deutsch: Automatische Testmustergenerierung
Englisch: automated test pattern generation - ATPG
Veröffentlicht: 25.10.2007
Wörter: 181
Tags: #Messgeräte und Testgeräte
Links: Analog, Chip, CPU (central processing unit), Digital, Fehler