AOI (automatic optical inspection)

Die automatische optische Inspektion, Automatic Optical Inspection (AOI), ist ein optischer Strukturtest für Leiterplatten mit dem relativ viele Fehler ermittelt werden können, allerdings weniger als mit dem Funktionstest (FT) oder dem In-Circuit-Test (ICT). Dafür ist der AOI-Test nicht so kosten- und zeitintensiv wie die anderen genannten Testverfahren.


Beim AOI-Test werden hochauflösende Fotos aufgenommen, wodurch der Test auch reproduzierbar ist. Es gibt auch AOI-Testsysteme, die stereoskopische 360°-Aufnahmen machen oder Aufnahmen aus verschiedenen Winkeln.

AOI-Test 
   mit schrägem Betrachtungswinkel, Foto: goepel.com

AOI-Test mit schrägem Betrachtungswinkel, Foto: goepel.com

Mit dem AOI-Test können mechanisch defekte Bauelemente erkannt werden, darüber hinaus Einpressfehler, Bestückungsfehler bei der Bestückung mit SMD-Bauteilen und bei der Durchstecktechnik (THT), Lötfehler, aber nicht alle Lotbadfehler.

AOI-Test mit Fehlerangaben, 
   Fotos: helmut-beyers-gmbh.de

AOI-Test mit Fehlerangaben, Fotos: helmut-beyers-gmbh.de

Außerdem können mit dem AOI-Test keine Fehler an verdeckten Chip-Anschlüssen kontrolliert werden, die sich unterhalb der Chips befinden, wie bei BGA-Chips. Ein anderes Problem ist die Polung von Bauelementen wie von Tantal-Kondensatoren oder Elkos, die bei axial installierten Bauelementen nicht aus der Draufsicht erkannt und kontrolliert werden kann. Dieses Problem kann mit AOI-Systemen gelöst werden, die Aufnahmen aus verschiedenen Winkeln machen können. Defekte elektrische Bauelemente können mit dem AOI-Test nicht erkannt werden.

Informationen zum Artikel
Deutsch: AOI-Test
Englisch: automatic optical inspection - AOI
Veröffentlicht: 13.03.2014
Wörter: 201
Tags: #Testverfahren
Links: Chip, Durchstecktechnik, Elko (Elektrolytkondensator), Fehler, Foto