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1149
IEEE 1149 Die traditionelle Messtechnik kann bei extrem kompakt bestückten Leiterplatten und auf Chips nicht mehr angewendet werden, da die Prüfspitzen die Schaltungspunkte nicht kontaktieren können. Außerdem w ... weiterlesen |
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Deutscher Kalibrierdienst (PTB) : DKD
Der Deutsche Kalibrierdienst (DKD) ist ein Zusammenschluss von Kalibrierlaboratorien aus Industrieunternehmen, Instituten, Behörden und Überwachungsinstitutionen. Es gibt akkreditierte Mitglieder, die ... weiterlesen |
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Embedded Instrument
embedded instrument Embedded Instruments oder Embedded System Access (ESA) ist eine Technologie bei der die Mess- und Teststechnik in die Chips implementiert wird. Bei Embedded Instruments werden auf einem Chip bestimmt ... weiterlesen |
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Interferometrie
interferometry Die Interferometrie ist eine Wissenschaft, die sich mit den Interferenzen von Wellen und deren Messung beschäftigt. Von Lichtwellen, elektromagnetische Wellen und Schallwellen. Durch die Interferenze ... weiterlesen |
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LXI-Klasse
LXI class Ethernet arbeitet bekanntlich nach einem stochastischen Zugangsverfahren und ist daher nur bedingt für zeitkritische Anwendungen einsetzbar. Aus diesem Grund hat man bei der LAN Extensions for Instrum ... weiterlesen |
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Messobjekt : MO
device under test : DUT Eine Device Under Test (DUT) oder Unit Under Test (UUT) ist ein elektronisches Messobjekt, dessen charakteristische Kennwerte ermittelt werden. Das kann ein Zweipol oder ein Vierpol sein, ein passives ... weiterlesen |
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Messtechnik
measurement technique In der elektrischen und elektronischen Messtechnik werden elektrische Signale von unbekannter Größe mit einer Einheitengröße verglichen, quantitativ bewertet und als Messwert mit ihrer Einheit dargest ... weiterlesen |
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Prüfung
examination Das Deutsches Institut für Normung e.V. (DIN) hat in DIN 1319 die Grundbegriffe der Messtechnik behandelt und darin auch den Begriff Prüfung. Bei der Prüfung geht es um die Feststellung inwieweit ein ... weiterlesen |
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Test
test Der Begriff Test bezieht sich in diesem Kontext ausschließlich auf das Testen von elektronischen Bauelementen, bestückten Leiterplatten und Baugruppen, sowie auf die dafür benutzten Testverfahren. Tes ... weiterlesen |
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VXI-Bus
VME extension for instruments : VXI Der VXI-Bus (VMEExtension for Instruments) ist ein Messbus, der auf dem VME-Bus aufbaut, unter Benutzung dessen elektrischer und mechanischer Spezifikationen. Die im VXI-Bus realisierten Erweiterungen ... weiterlesen |
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device relationship management : DRM Device Relationship Management (DRM) ist eine Fernwartung über das Internet. Mit einem solchen Programm können intelligente Endgeräte in ihrer Funktionalität überwacht, verwaltet, konfiguriert und gew ... weiterlesen |
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interchangeable virtual instrument (LXI) : IVI Test- und Messgeräte können nach der LAN Extensions for Instrumentation (LXI) an Ethernet angeschlossen und über die USB-Schnittstelle mit PersonalComputern kommunizieren. Zu diesem Zweck benötigen si ... weiterlesen |
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interconnect built in self test : IBIST Bei traditionellen Prüftechniken und Messtechniken werden bestimmte Signalgrenzwerte an einem oder an wenigen Schaltungspunkten gemessen, da die Belastung der Schaltungspunkte durch die Prüfspitzen d ... weiterlesen |
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joint test action group (IEEE 1149) : JTAG Die 1985 gegründete Joint Test Action Group (JTAG) befasst sich mit der Entwicklung Software-gesteuerter, automatisierter Testverfahren von ASICs (Application Specific Integrated Circuit) oder Leiterp ... weiterlesen |
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system under test : SUT Von einem System under Test (SUT) spricht man, wenn ein komplettes System mit seiner Software auf seine korrekten Betriebsfunktionen hin getestet wird. Der Begriff System under Test besagt, dass für ... weiterlesen |