Die 1985 gegründete Joint Test Action Group (JTAG) befasst sich mit der Entwicklung Software-gesteuerter, automatisierter Testverfahren von ASICs oder Leiterplatten. Das von der JTAG entwickelte Testverfahren wurde 1990 vom IEEE als IEEE 1149.1 standardisiert und ist bekannt als Boundary-Scan-Test. Für die Programmierung, Emulation und das Debugging von Controllern hat die JTAG den JTAG-Stecker spezifiziert, der als Schnittstellenumsetzer eingesetzt werden kann.

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http://www.jtag.com