Verschiedene Halbleitertechnologien wie die CMOS-Technologie sind besonders gefährdet gegenüber elektrostatischen Entladungen (ESD). Zur Simulation und zur ESD-Testung wurden daher verschiedene Modelle entwickelt, so das Human Body Model (HMB), das Machine Model (MM) und das Charged Device Model (CDM). Bei letzterem handelt es sich um ein Modell, das die Entladung von elektrostatisch aufgeladenen Bauelementen über einen oder mehrere Anschlüsse gegen Masse nachbildet. Mit diesem Modell kann die Empfindlichkeit der Schaltkreise gegenüber elektrostatischen Entladungen getestet werden.

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