Die automatische optische Inspektion (AOI) ist ein optischer Strukturtest für Platinen mit dem relativ viele, aber im Gegensatz zum Funktionstest (FT) und zum In-Circuit-Test (ICT) weniger Fehler ermittelt werden können. Dafür ist der AOI-Test nicht so kosten- und zeitintensiv wie die anderen genannten Testverfahren.

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Optische und elektrische Fehlererkennung

Mi dem AOI-Test können mechanisch defekte Bauelemente erkannt werden, darüber hinaus Einpressfehler, Bestückungsfehler bei der Bestückung mit SMD-Bauteilen und bei der Durchstecktechnik (THT), Lötfehler, aber nicht alle Lötbadfehler. Außerdem ist keine Fehlererkennung an verdeckten Lötstellen möglich. Defekte elektrische Bauelemente können mit dem AOI-Test nicht erkannt werden.