Mit dem Funktionstest (FT) wird die Funktionalität von Chips und bestückten Boards getestet. Bei diesem seit vielen Jahren angewendeten Testverfahren, können defekte elektrische Bauelemente ermittelt, aber auch Einpressfehler, SMT- und THT-Bestückungsfehler, Lötfehler und Lötbadfehler festgestellt werden.

Die Vorbereitungen von einem Funktionstest sind äußerst zeitaufwändig und können je nach Komplexität des Boards mehrere Monate in Anspruch nehmen. Außerdem ist die Fehlersuche mit hohen Kosten verbunden, da sie von qualifiziertem Personal vorgenommen werden muss und relativ zeitaufwändig ist. Da die Funktionalitäten moderner Boards äußerst vielfältig ist, ist ein Test aller Funktionen praktisch ausgeschlossen.

In der Praxis wird der Funktionstest durch eine automatische Testmustergenerierung (ATPG) unterstützt. Es gibt entsprechende Tools für die Testmustergenerierung für digitale Logiken und analoge Schaltkreise.

Bei den Digitalschaltungen zielt die Bitmustergenerierung darauf ab möglichst viele Bitmuster zu erzeugen um Fehler in den Schaltungen oder in den Komponenten zu simulieren.