In der Messtechnik zeigt sich ein neuer Trend, der des Embedded Instruments. Bei dieser Technologie werden auf einem Chip bestimmte Prüfstrukturen integriert. So beispielsweise die eines Logikanalysators , eines Digitalmultimeters oder sogar die eines Oszilloskops. Mit diesen Embedded Funktionen können bestimmte Parameter während des Betriebs überwacht und bei Abweichung von vorgegebenen Sollwerten kann ein Alarm ausgelöst werden.

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Die IEEE befasst sich in der Arbeitsgruppe IEEE 1687 mit diesem Thema und bereitet einen entsprechenden Standard vor, der noch 2011 verabschiedet werden soll. Das Konzept sieht vor, dass die Messwerte zur Auswertung auch an externe Komponenten geführt werden können.